M-2數(shù)字式電阻率測試儀型號：M-2

M-2型數(shù)字式電阻率測試儀是運用四探針測量原理的多種用途綜合測量裝置，它可以測量片狀，塊狀半導體材料的徑向和軸向電阻率，測量擴散層的薄層電阻（也稱方塊電阻）。換上特制的四探針測試夾具，還可以對金屬導體的低，中值電阻進行測量 
M-2數(shù)字式電阻率測試儀是運用四探針測量原理的多種用途綜合測量裝置，它可以測量片狀，塊狀半導體材料的徑向和軸向電阻率，測量擴散層的薄層電阻（也稱方塊電阻）。換上特制的四探針測試夾具，還可以對金屬導體的低，中值電阻進行測量。 
儀器由主機，測試探頭（可選配測試臺）等部分組成，測試結(jié)果用數(shù)字表頭直接顯示。主機主要由數(shù)控恒流源，高分辨率ADC，嵌入式單片機系統(tǒng)組成，自動轉(zhuǎn)換量程。測試探頭采用高耐磨碳化鎢探針制成，定位準確，游移率較小，壽命長。 
儀器適用于半導體材料廠，半導體器件廠，科研單位，高等院校對半導體材料的電阻性能的測試。特別適用于要求快速測量中低電阻率的場合. 
工作條件為： 
溫度： 
相對濕度： 60% ~ 70% 
工作室內(nèi)應無強電磁場干擾，不與高頻設備共用電源 
  
二·M-2型數(shù)字式電阻率測試儀 技術(shù)參數(shù) 
1. 測量范圍： 
電阻率：10 -2  ~ 102Ω-cm 
方塊電阻：10 -1  ~ 103Ω/□ 
電阻：10 -3  ~ 9999Ω 
2. 可測半導體材料尺寸 
直徑：15mm-100mm 
長（或高）度：≤400mm 
3. 測量方位： 
軸向，徑向均可 
4. 數(shù)字電壓表 
量程：2V 
誤差: ：± 0.1% FSB ± 2LSB 
分辨力：10μA 
精度： 18位ADC ( 5 1/2 位) 
顯示：4位數(shù)字顯示，小數(shù)點自動顯示 
5. 數(shù)控恒流源 
電流輸出： 直流電流 2μA~ 2mA, 2μA步進可調(diào)，系統(tǒng)自動調(diào)整。 
誤差：± 0.1% FSB ± 0.5LSB  
6. 四探針測試探頭： 
探針間距： 1mm 
探針機械游移率：± 1% 
探針：碳化鎢，直徑0.5mm 
7.電源： 
DC 4.5V ~8V 
功耗： < 1W 
電源適配器：輸入： 220V±10% 50Hz 
輸出：DC5V ± 10% 
8. 外形尺寸： 
主機： 170mm (長) X 130mm (寬) X50mm(高) 

產(chǎn)品名稱：電阻式位移計 產(chǎn)品型號：SDW-300

SDW系列型電阻式（也稱電位器式）位移計可直接埋設在水工建筑物及其它結(jié)構(gòu)的混凝土內(nèi)，也可安裝在建筑物表面，可在惡劣環(huán)境下長期監(jiān)測結(jié)構(gòu)裂縫和接縫的開合度。外置萬向節(jié)允許一定程度的剪切變形。選購配套設備，可組成SDW-B系列型電阻式雙向位移計、SDW-T系列型電阻式三向位移計、SDW-K系列型電阻式脫空計等，用于混凝土面板壩、堆石壩的脫空位移監(jiān)測及周邊縫、基巖軟弱夾層兩側(cè)巖體的錯動等雙向及三向裂縫監(jiān)測。